Programma

Durante il corso verranno presentate due tecniche di caratterizzazione delle proprietà superficiali della materia condensata: la Fotoemissione da raggi X e la Microscopia a Forza Atomica. Verrà inizialmente presentata in aula una introduzione teorica alle due tecniche sperimentali. Le lezioni frontali avranno come tema: microscopia ottica e microscopia a sonda; STM; AFM in contatto; AFM in non contatto; tecniche SPM secondarie; risoluzione e artefatti; analisi immagini SPM; vuoto e superfici; fondamenti di spettroscopia a raggi X; il modello a tre passi; sorgenti x; analizzatori di elettroni; rivelazione di elettroni; acquisizione ed analisi dati XPS. Successivamente verrà svolta l'attività di laboratorio vera e propria, che verrà condotta presso il Laboratorio di Fisica e Tecnologia dei Semiconduttori ed il laboratorio Lasec (laboratorio di spettroscopie elettroniche e di coincidenza)

Testi Adottati

-Dispense fornite dal docente basate sulle slide presentate a lezione
- Fondamenti di microscopia a scansione di sonda, V. L. Mironov, NT-MDT

Modalità Erogazione

Lezioni teoriche in classe e prove pratiche di laboratorio

Modalità Frequenza

La frequenza alle lezione teoriche è fortemente consigliata. La frequenza delle esercitazioni di laboratorio è obbligatoria

Modalità Valutazione

prova finale orale con compilazione di un quaderno di laboratorio

Programma

Durante il corso verranno presentate due tecniche di caratterizzazione delle proprietà superficiali della materia condensata: la Fotoemissione da raggi X e la Microscopia a Forza Atomica. Verrà inizialmente presentata in aula una introduzione teorica alle due tecniche sperimentali. Le lezioni frontali avranno come tema: microscopia ottica e microscopia a sonda; STM; AFM in contatto; AFM in non contatto; tecniche SPM secondarie; risoluzione e artefatti; analisi immagini SPM; vuoto e superfici; fondamenti di spettroscopia a raggi X; il modello a tre passi; sorgenti x; analizzatori di elettroni; rivelazione di elettroni; acquisizione ed analisi dati XPS. Successivamente verrà svolta l'attività di laboratorio vera e propria, che verrà condotta presso il Laboratorio di Fisica e Tecnologia dei Semiconduttori.

Testi Adottati

-Dispense fornite dal docente basate sulle slide presentate a lezione
- Fondamenti di microscopia a scansione di sonda, V. L. Mironov, NT-MDT

Modalità Erogazione

Lezioni teoriche in classe e prove pratiche di laboratorio

Modalità Frequenza

La frequenza alle lezione teoriche in presenza è facoltativa ma fortemente consigliata. La frequenza delle esperienze di laboratorio è obbligatoria.

Modalità Valutazione

prova finale orale con compilazione di un quaderno di laboratorio

Programma

Il corso fornisce agli studenti un’introduzione teorico-sperimentale alle principali tecniche di diagnostica basate sull’interazione tra radiazione o particelle e la materia. Le attività si svolgeranno presso il LASR3 – Laboratorio Analisi Superfici, INFN Sezione Roma Tre, con esperimenti condotti su materiali inorganici e organici di interesse per la fisica dei semiconduttori, dei superconduttori, per applicazioni nella fisica nucleare, medica e nello sviluppo di sensori.
Gli argomenti trattati includono:
Interazione radiazione-materia: principi di fluorescenza a raggi X (XRF); applicazioni nello studio non distruttivo di materiali complessi.
Interazione particelle-materia: principi di sputtering e bombardamento ionico; modifiche superficiali indotte da ioni; tecniche di caratterizzazione mediante fasci ionici.
Aspetti applicativi: diagnostica di materiali semiconduttori e superconduttori; caratterizzazione di materiali per la fisica medica, nucleare e per la sensoristica avanzata.

Testi Adottati

Dispense fornite dal docente, basate sul materiale presentato a lezione.

Modalità Frequenza

La frequenza alle attività di laboratorio è obbligatoria.

Modalità Valutazione

Prova finale orale, basata sulla discussione degli esperimenti svolti e sulla compilazione di un quaderno di laboratorio.